contura g2：的高水平测量技术 一机多用的扫描平台 物超所值的contura g2非常适合中小型生产企业，其扫描技术可以高密度处理数据。利用vast扫描技术使工件的形状检验可以快速获得高品质和测量结果。可及早发现加工中的变化，确保产品质量并将废品率降至低程度。 重要特征 contura g2 direkt contura g2 rds contura g2 aktiv 坚固耐用的机械设计 ?x轴与z轴采用陶瓷材料制成，具有良好的刚性，可以保护设备不受生产环境所造成的影响 ?三轴均采用四面环抱气浮轴承，可在高速行进时保持稳定性 机器技术 ?contura g2 direkt:蔡司扫描技术的入门级机型，配置vast xxt扫描探头，可测量多种工件 ?contura g2 rds: 蔡司rds配置vast xxt扫描探头，可自由快速旋转探针，扫描范围可达到任何角度位置 ?contura g2 aktiv: 具有自定心功能，可测量深孔元素，对尺寸，形状及位置的高可靠性测量，主要得益于灵活的vast xt探头技术 选项 传感器架 htg机型 z轴扩大空间 ?设备的探针更换架具有非常高的更换重复精度，无须再次校准 ?采用htg（宽温带）机型，可以在较宽的温度范围内达到相同的测量精度 ?采用u-stone技术，将测量有效高度提升200mm，扩大z轴测量空间 测量范围(in mm) 700 x 700 (1000) x 600 1000 x 1200 – 2100 x 600 1000 x 1200 – 2100 x 600 u型花岗岩平台 可配置的传感器 rds sensor carrier vast xxt with/without rds viscan dts dt dynatouch vast xt